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紫外分光光度計的系統組成原理
  • 發布日期:2017-06-15      瀏覽次數:1287
    •      紫外分光光度計按儀器工作原理的不同,有單光束分光光度計和雙光束分光光度計之分。為滿足紫外-真空紫外光學元件本體光譜傳輸特性測試的需要,并考慮到光學元件工作于紫外-真空紫外波段,為保證系統具有較高的信噪比,設計了一種紫外分光光度計,可以對直徑小于200mm的紫外-真空紫外光學元件本體進行光譜傳輸特性測試,工作波段115~400nm,光譜分辨力0.5nm。
       
      紫外分光光度計的系統組成原理:
       
          紫外分光光度計由150w氘燈輻射源、前置超環面聚光鏡、紫外-真空紫外單色儀、后置反射光學系統、光學調制器、樣品/探測器轉臺、光電倍增管探測器、高壓電源、鎖相放大器、樣品/探測器轉臺掃描控制器、波長掃描控制器、數據采集器及計算機控制系統組成,結構如圖1所示。前置超環面聚光鏡將氘燈光源成像于紫外-真空紫外單色儀的入射狹縫,從單色儀出射狹縫出射的光經后置反射光學系統準直,照射到樣品。探測器圍繞樣品旋轉并測量,測量入射光直接照射探測器及經樣品透射或反射后照射探測器的輸出信號,可給出樣品的光譜透射率、光譜反射率、光譜漫反射率及光柵效率等。單色儀波長掃描、樣品/探測器掃描和數據采集處理在計算機控制下進行。在光路中加入起偏器,可進行光學元件光譜偏振特性測試。引入光學調制器進行光學斬波-鎖相放大,有利于提高電子學系統信噪比。鎖相放大器通過ieee-488接口與機算機相接,便于數據采集處理。
     
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