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紫外可見分光光度計雜散光測試步驟
  • 發布日期:2016-09-02      瀏覽次數:1795
    •   據了解,有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光,不測試340nm處的雜散光,這樣是不正確的,需測試220nm處雜散光是因為:①根據量子光學理論,波長是能量的倒數,波長短能量大,容易產生雜散光,而220nm處屬于短波部分;②根據儀器學理論中的電光源理論,氘燈在220nm處能量很小,即信號很小,容易顯現雜散光;③根據儀器學理論中的光電發射理論,光電倍增管在220nm處的光譜響應(靈敏度)低,容易顯現雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的,因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調換濾光片的地方,此時容易產生雜散光。所以,對于紫外可見分光光度計來講,應該測試220nm和340nm兩處的雜散光。
           紫外可見分光光度計
      紫外可見分光光度計雜散光測試步驟
      1、首先將參比液注入配對石英石吸收池,分別放置在參比池座和試樣池座內。再測定波段掃描基線并使之平滑。
      2、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內,其讀數即為減光片的衰減值K,然后將減光片插入參比光路的濾光片座內,
      3、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液,插入試樣試樣池座中,在相應的波段內掃描、打印;在記錄紙的作標上量取測定波長處的透光度,乘以衰減值K,即得各測定波長處的雜散光值。
          
     
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